|
Vyučující
|
-
Pietsch Tomáš, RNDr. Ph.D.
|
|
Obsah předmětu
|
Klasifikace analytických technik, spektroskopie (optická emisní, rtg. fluorescenční, atomová absorpční, elektronová, vibrační, hmotnostní, jaderná magnetická rezonance, moesbauerovská), termická analýza (diferenční, termogravimetrie, pyrolýza, termoevoluční techniky, chromatografie), difrakce (rtg, elektronová), mikroskopie (metalografická a rudní, polarizační, řádkovací elektronová, transmisní elektronová, řádkovací tunelová, akustická), obrazová analýza, mikroanalýza (elektronová, iontová, Ramanova, reflexní spektrální mikrofotometrie, Kosselova difrakce), tomografie (radiační, akustická, jaderná magnetická rezonanční).
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
Přednáška, Cvičení
- Kontaktní výuka
- 65 hodin za semestr
- Příprava na zkoušku [10-60]
- 60 hodin za semestr
- Příprava na souhrnný test [6-30]
- 20 hodin za semestr
|
| Předpoklady |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| popsat strukturu atomu a typy vazeb mezi atomy v pevné látce |
| charakterizovat jednotlivé druhy záření využívané při různých technikách zkoumání pevných látek |
| charakterizovat základní typy silových interakcí |
| formulovat základy Fourierovy transformace |
| Odborné dovednosti |
|---|
| používat nástroje vektorové algebry |
| používat diferenciální a integrální počet |
| Obecné způsobilosti |
|---|
| mgr. studium: používají své odborné znalosti, odborné dovednosti a obecné způsobilosti alespoň v jednom cizím jazyce, |
| Výsledky učení |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| popsat techniky analýzy materiálů včetně spektroskopické, termální a difrakční analýzy, mikroskopie, tomografie a mikroanalytických technik |
| popsat fyzikální principy, možnosti a omezení výše uvedených technik |
| rozpoznat u každé techniky formu jejích výsledků (diagram, difraktogram, snímek) a vědět jak je intepretovat |
| Odborné dovednosti |
|---|
| aplikovat rentgenovou spektrální a difrakční analýzu pro určení prvkového složení, fázového složení a reálné struktury látek |
| navrhnout vhodnou experimentální techniku analýzy pro aktuální problém týkající se struktury látek |
| kompetentně posoudit způsob vyhodnocení naměřených dat a optimalizovat interpretaci takto získaných výsledků |
| aplikovat prostudované koncepty při plánování a provádění laboratorních experimentů |
| Obecné způsobilosti |
|---|
| mgr. studium: samostatně a odpovědně se rozhodují v nových nebo měnících se souvislostech nebo v zásadně se vyvíjejícím prostředí s přihlédnutím k širším společenským důsledkům jejich rozhodování, |
| Vyučovací metody |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| Přednáška založená na výkladu, |
| Cvičení (praktické činnosti), |
| Odborné dovednosti |
|---|
| Přednáška založená na výkladu, |
| Cvičení (praktické činnosti), |
| Obecné způsobilosti |
|---|
| Přednáška založená na výkladu, |
| Cvičení (praktické činnosti), |
| Hodnotící metody |
|---|
| Odborné znalosti |
|---|
| Kombinovaná zkouška, |
| Odborné dovednosti |
|---|
| Kombinovaná zkouška, |
| Obecné způsobilosti |
|---|
| Kombinovaná zkouška, |
|
Doporučená literatura
|
-
Bhushan, Bharat. Springer handbook of nanotechnology : with 972 figures and 71 tables. Berlin : Springer, 2004. ISBN 3-540-01218-4.
-
Bubert, H.; Jenett, H. Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications. Weinheim : WILEY-VCH, 2002. ISBN 3-527-30458-4.
-
Czichos H. Springer Handbook of Materials Measurement Methods.. Leipzig, 2006. ISBN 978-3-540-20785-6.
-
Eckertová, L. (ed.). Diagnostics and Applications of Thin Films. Institute of Physics, Bristol, 1992.
-
Gauglitz G. Handbook of Spectroscopy. Weinheim : WILEY-VCH, 2003. ISBN 3-527-29782-0.
-
Haviar, S. Moodle kurz k předmětu EMSA.
|